■  电压范围：0-5V；

       ■  量程范围：0-50A/100A/200A/300A/400A/500A/600A/800A/1000A；
       ■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、恒压放电、循环寿命、充电容量、放电容量、 DCIR（直流等效内阻）等参数测试；

       ■  充转放无缝切换，无过充过放；

       ■  采样&通讯传输间隔高达1ms，完全真实还原测试过程数据；

       ■  功能丰富的上位软件，支持生产分选功能；
       ■  每通道对应状态指示灯，分选更方便；

       ■  强大的数据存储与分析功能；

       ■  百兆以太网通讯；

容量测量

     N5800可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。测试方法为： 对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电，在充（放）电过程中记录时 间和电压参数，通过计算充（放）电过程中电压对时间的斜率计算容量。 用户可根据IEC等各种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。

充电容量计算公式：

放电容量计算公式： 

其中：Ur表示额定电压 U1表示充电容量计算起始电压 

          U2表示充电容量计算截止电压 U3表示放电容量计算起始电压

          U4表示放电容量计算截止电压 

          I1表示充电电流

          I2表示放电电流 

等效串联内阻(DCIR)测试

      N5800具有丰富的直流内阻测量功能，支持业内多种主流DCIR测试方法： 多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法，可满足绝大部 分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻 测量结果。

IEC法直流等效内阻计算公式：

      N5800可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。 

      采用精密的设计电路，保证充放电过程快速，精确。充电过程中恒流充点转恒压充电无过充，能最好的保护被测产品，防止由于过程导致测试结果不准或样品损毁等情况。恒压充电转恒流无缝切换，结合1ms高速采样，完全真实还原出产品测试过程，满足用户测试QC/T741、六步法、充转放法对直流等效内阻（DCIR）的测试要求。 

(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。