所属品牌
相关品牌
- 详细描述
- 技术资料
CT6201测试系统是专为半导体激光器芯片测试而设计的高效、便捷测试系统,适用于CoC的大规模量产测试。
该系统采用与联讯仪器BI6201相同的测试夹具,简化了芯片的上下料过程,并消除了CoC在上下料的过程中潜在的ESD风险。
高效、稳定的光路耦合设计,确保了光学耦合和光谱测量的快速和可靠性。此外,该系统采用双夹具载台设计,每个载台都具
有独立的温度控制功能。当一个载台正在进行产品测试时,另一个载台可以提前进行温度预控,从而减少了升降温的等待时
间,同时与CoC夹具双侧并行测试配合,显著提高了测试效率。