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联讯仪器CT820X半导体激光器裸Die芯片测试系统，设计用于激光器芯片LIV、光谱扫描参数测试。该系统集DUT ID识别、
晶圆环加载、搬运、常高温测试、低温测试、卸载和分拣于一体。联讯仪器CT820X测试速度快，可在6s内完成整个取放料
以及两个温区测试流程，非常适合大规模生产应用。此系统采用直线电机、东方步进电机与高精度运动模组配合，使系统
具有很高的精度和稳定性
北京凡实测控技术有限公司
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